分享光學(xué)窗口片檢測的基本原理

　　光學(xué)窗口片是經(jīng)過(guò)磨、拋光后形成相互平行的兩個(gè)表面的光學(xué)玻璃片。它們用在兩種環(huán)境間時(shí)可作為保護原件，然而它們對通過(guò)的可見(jiàn)光幾乎沒(méi)有影響 。常用的鍍膜有減反射膜（AR）和防刮傷膜（AS），也可按照客戶(hù)需求改善更好的效果，可以防水防塵防刮傷，按照客戶(hù)要求定制。光學(xué)窗口片是光學(xué)系統的前置保護片，主要可用于CCD/CMOS芯片的封裝、光學(xué)儀器、測量?jì)x器及數碼設備的保護、激光二極管上的蓋片等。

　　光學(xué)窗口片檢測的基本原理

　　光學(xué)窗口片中的各種雜質(zhì)，在光學(xué)特性上必然與光學(xué)窗口片本身有差異。當光線(xiàn)入射光學(xué)窗口片后，各種雜質(zhì)會(huì )在反射、折射等方面表現出與周?chē)鈱W(xué)窗口片不同的異樣。例如，當均勻光垂直入射光學(xué)窗口片時(shí)，如光學(xué)窗口片中沒(méi)有雜質(zhì)，出射的方向不會(huì )發(fā)生改變，所探測到的光也是均勻的；當光學(xué)窗口片中含有雜質(zhì)時(shí)，出射的光線(xiàn)就會(huì )發(fā)生變化，所探測到的圖像也要隨之改變。由于雜質(zhì)的存在，在其周?chē)桶l(fā)生了應力集中及變形，在圖像中也容易觀(guān)察。若遇到光透射型缺陷（如裂紋、氣泡等），光線(xiàn)在該缺陷位置會(huì )發(fā)生折射，光的強度比周?chē)囊?，因而相機靶面上探測到的光也相應增強；若遇到光吸收型（如砂粒等）雜質(zhì)，則該缺陷位置的光會(huì )變弱，相機靶面上探測到的光比周?chē)墓庖?。分析相機采集到的圖像信號的強弱變化、圖像特征，便能獲取相應的缺陷信息。