瑞研光學(xué)小課堂：光學(xué)元件表面質(zhì)量名詞講解

瑞研光學(xué)小課堂：光學(xué)元件表面質(zhì)量名詞講解

    劃痕和麻點(diǎn)（坑點(diǎn)）的評價(jià)參數

光學(xué)表面的質(zhì)量用來(lái)衡量光學(xué)產(chǎn)品表面特性，并且涵蓋了一些劃痕和坑點(diǎn)等瑕疵。這些表面的大部分瑕疵純粹是表面上的瑕疵，并不會(huì )對系統性能產(chǎn)生很大的影響，雖然，它們可能會(huì )使系統通光量出現微小的下滑，使散射光出現更細微的散射。然而，有些表面會(huì )對這些影響更敏感

• 圖像平面的表面，因為這些瑕疵會(huì )產(chǎn)生聚焦
• 具有高功率級別的表面，因為這些瑕疵會(huì )增加能量吸收并毀壞光學(xué)產(chǎn)品。

表面質(zhì)量常用的規格是由MIL-PRF-13830B說(shuō)明的劃痕和坑點(diǎn)規格。通過(guò)將表面的劃痕與在受控的照明條件下提供的一系列標準劃痕進(jìn)行對比，來(lái)確定劃痕名稱(chēng)。

因此，劃痕名稱(chēng)不是描述其實(shí)際的劃痕，而是根據MIL規格將其與標準的劃痕進(jìn)行比較。然而，坑點(diǎn)名稱(chēng)直接與表面的點(diǎn)或小坑有關(guān)?？狱c(diǎn)名稱(chēng)是通過(guò)以微米計的坑點(diǎn)直徑除以10來(lái)計算的，通常劃痕坑點(diǎn)規格在80至50之間將視為標準質(zhì)量，在60至40之間為質(zhì)量，而在20至10之間將視為高精度質(zhì)量。

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